Датчики

Датчик изотопного проникающего излучения
Измерение проникающим излучением изотопов - бесконтактный способ, позволяющий измерять массу единицы поверхности (г/м2).При этом используется измерение поглощения материалом лучей, проходящих сквозь него.

 Датчик изотопного отражающего излучения
зотопное измерение путем отражения лучей – бесконтактный способ измерения массы единицы поверхности (г/м2). При прохождении радиоактивного излучения через материал определенная доля частиц отражается обратно.

Лазерный датчик
Датчик работает по принципу триангуляции. Фокусированный инфракрасный луч создает световое пятно на объект измерения. Позиция этого пятна схватывается датчиком PSD\ПЗС-матрицей, что позволяет рассчитывать расстояние к объекту.

 Ультразвуковой датчик
Датчик работает по методу «Импульс-эхо», т.е. посылается ультразвуковой импульс, который отражается от измерительного объекта и принимается снова. По времени пробега импульса определяется расстояние от измеряемого объекта до датчика.

Датчик рентгеновского излучения
При измерении способом трансмиссии излучатель и детектор монтируются друг напротив друга, причем измеряемый материал располагается между ними.  Излучение ослабляется измеряемым материалом, причем ослабление зависит от плотности, толщины и состава измеряемого материала.

Лазерный датчик-камера
Датчики  DELTA MASTER  3, работают по принципу оптической триангуляции. Полупроводниковый лазер проецирует тонкую линию измерения на поверхность материала. Изображение этой линии схватывается геометрически ультрастабильной камерой Matrix-CCD и обрабатывается цифровым способом.

IndiCam 100^® / IndiTherm^®
IndiCam 100^® измеряет массу единицы поверхности и толщину на основе(IndiTherm^®) измерения температур камерами с термограммой.  Принцип измерения основывается на оценке зарегистрированных с точностью до миллиметра температурных изменений материалов на охлаждающем и горячем валиках.

IndiSpectro^®
змерение основано на сравнении оптической толщины слоев с длиной световых волн. При попадании светового луча на прозрачный слой материала луч частично отражается как от верхней, так и от нижней границы этого слоя.